All sciences. №9, 2023. International Scientific Journal - страница 9



7. Irodov, I. E. Quantum physics. Basic laws: A textbook / I. E. Irodov. – M.: Binom, 2014. – 256 p.

8. Irodov, I. E. Quantum Physics. Basic laws: A textbook / I. E. Irodov. – M.: Binom. Laboratory of Knowledge, 2010. 256 p.

9. Irodov, I. E. Quantum Physics. Basic laws: A textbook / I. E. Irodov. – M.: Binom. Laboratory of Knowledge, 2004. – 272 p.

10. Irodov, I. E. Quantum physics. Basic laws / I. E. Irodov. – M.: Binom. Laboratory of Knowledge, 2010. – 256 p.

11. Irodov, I. E. Quantum physics. Basic laws: A textbook for universities / I. E. Irodov. – M.: Binom. LZ, 2013. – 256 p.

12. Kamalov, T. F. Physics of non – inertial reference systems and quantum mechanics / T. F. Kamalov. – M.: KD Librocom, 2017. – 116 p.

13. Karmanov, M. V. Course of general physics. Vol. 3. Quantum optics. Atomic physics. Solid state physics In 4 tt T: 3 / M. V. Karmanov. – M.: KnoRus, 2012. – 384 p.

14. Kvasnikov, I. A. Thermodynamics and statistical physics. Vol. 4. Quantum statistics: Textbook / I. A. Kvasnikov. – M.: KomKniga, 2010. – 352 p.

15. Kvasnikov, I. A. Thermodynamics and statistical physics: Vol. 4: Quantum statistics / I. A. Kvasnikov. – M.: Lenand, 2017. – 352 p.

16. Kvasnikov, I. A. Thermodynamics and statistical physics. Vol. 4: Quantum statistics / I. A. Kvasnikov. – M.: KomKniga, 2014. – 352 p.

TECHNICAL SCIENCES

DETERMINATION OF THE SURFACE RECOMBINATION RATE IN POLYCRYSTALLINE FILMS FROM THE CDTE-SIO>2—SI-AL COMPOUND BY THE MW-PC METHOD

UDC 544.22

Alimov Nodir Esonalievich


Doctor of Philosophy in Physical and Mathematical Sciences, Lecturer at the Department of Physics, Faculty of Physics and Technology, Ferghana State University

Ferghana State University, Ferghana, Uzbekistan


E-mail: alimov.nodir.esonaliyevich@gmail.com

Annotation. In this article, the rates of surface recombination in polycrystalline CdTe films obtained on oxidized substrates are studied, and the results of the action of corona discharge into the CdTe-SiO2—Si-Al structure are presented. In the static mode, a shift of the short-circuit current spectra to the short-wave region was observed. To analyze the displacement of the short-circuit current spectra, the microwave probe photoconductivity (MW-PC) method was used and contactless registration of transient decay processes for redundant carriers was performed. From the data obtained, it was found that the rate of surface recombination was estimated at 19 ns. It was determined that filling of surface traps in CdTe leads to a decrease in the effect of surface recombination.

Keywords: semicrystalline structures, surface recombination rate, polycrystalline films, spectrum shift.

Аннотация. В данной статье изучено скорости поверхностной рекомбинации в поликристаллических пленках CdTe полученных на окисленных подложках, Приведены результаты действия коронного разряда в структуру CdTe-SiO>2—Si-Al. в статическом режиме наблюдался смещение спектров тока короткого замыкания в коротко волновую область. Для анализа смещения спектров тока короткого замыкания использован метод микроволновой зондовой фотопроводимости (MW-PC) и проведена бесконтактная регистрация переходных процессов распада для избыточных носителей. Из полученных данных установлено что скорость поверхностной рекомбинации была оценена 19 нс. Определено, что заполнение поверхностных ловушек в CdTe приводит к уменьшению воздействия поверхностной рекомбинации.